Maîtrise statistique des processus (MSP-SPC) - cartes de contrôle - Formation

- Introduction générale

- Préalable à la Maîtrise Statistique des Processus (MSP/SPC) : la capabilité de la mesure

• Notions de métrologie
• Sources de variation - Causes communes (aléatoires), causes spéciales (assignables)
• Introduction aux études d’incertitudes (gage R&R)

- La capabilité du procédé

• Introduction au Six Sigma
• Indice de capabilité Cp et Cpk
• Calculs dans le cas de paramètres ne suivant pas la loi Normale

- Les cartes de contrôle

• Les principes de la carte de contrôle
• Construction
  d’une carte de contrôle : mode d’échantillonnage et calcul des limites
  de contrôle à partir d'une période de référence
• Différences entre limites de contrôle et limites de spécification
• Le taux de fausses alarmes dans le cas gaussien (loi Normale)
• Les règles de Western Electric pour déterminer si un procédé est hors-contrôle
• Les différents types de cartes de contrôle
  • Cartes simples de type individuelles
  • Cartes de Shewhart (moyenne / dispersion) pour la détection de déréglages rapides : Xbar/R, Xbar/S
  • Cartes CUSUM et de type EWMA (moyennes mobiles) pour la détection de déréglages lents
  • Cartes aux attributs de type cartes P ou cartes C
  • Cartes multivariées (T2 de Hotelling)
• Cartes de contrôle sous hypothèses non-standards
  • Différentes sources de variation
  • Limites de contrôle dans le cas de paramètres non gaussiens
  • Données auto-corrélées
• Réaction en cas de hors-contrôle
• La Maîtrise Statistique des Processus dans l'Entreprise